Awards

By Students

  1. Best Paper Award, 35th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 2023
    • Yuma Iwata
    • Paper: Measurement of temperature effect on comparator offset voltage variation
  2. Best Design Award, ASP-DAC University Design Contest, January 2023
    • Shun Yamaguchi
    • Paper: A fully synchronous digital LDO with built-in adaptive frequency modulation and implicit dead-zone control
  3. 情報処理学会SLDM研究会優秀発表賞，DAシンポジウム2022
    • 太田 慎一
    • タイトル：MOSFETの弱反転領域電流の統計的性質を利用する温度センシング手法
  4. 情報処理学会SLDM研究会セッション特別賞，DAシンポジウム2022
    • 山口駿
    • タイトル：MOSFETのサブスレッショルド電流を利用した適応的周波数変調によるディジタルLDOの低消費電力設計
  5. 情報処理学会SLDM研究会優秀発表賞，DAシンポジウム2022
    • 山口駿
    • タイトル：MOSFETのサブスレッショルド電流を利用した適応的周波数変調によるディジタルLDOの低消費電力設計
  6. VDECデザインコンテスト奨励賞
    • 山口駿
    • タイトル：サブスレッショルド電流を利用した周波数変調回路と 単一参照電圧を用いた Dead-zone 制御を搭載したディジタルLDO
  7. IPSJ Computer Science Research Award for Young Scientists (情報処理学会コンピュータサイエンス領域奨励賞), 2022
    • 有働岬
    • 論文タイトル：遅延ばらつき評価に向けた交互配置均質リングオシレータ
  8. 情報処理学会SLDM研究会優秀発表賞，DAシンポジウム2021
    • 有働岬
    • 論文タイトル：遅延ばらつき評価に向けた交互配置均質リングオシレータ
  9. 情報処理学会SLDM研究会セッション特別賞，2021
    • 原田彰吾
    • 論文タイトル：しきい値電圧差を利用した時間領域処理による広い電源電圧で動作するCMOS温度センサ
  10. 情報処理学会SLDM研究会セッション特別賞，2021
    • 有働岬
    • 論文タイトル：電源電圧と基板電圧の動的調整がランダムテレグラフに起因する遅延ばらつきに及ぼす影響
  11. IEEE CEDA All Japan Joint Chapter Academic Research Award, 2020
    • Shogo Harada
    • Paper title: Design of reference-free CMOS temperature sensor with statistical MOSFET selection
  12. IPSJ Yamashita SIG Research Award, 2020
    • Shogo Harada
    • Paper title: MOSFETの統計的選択によるレファレンス不要なCMOS温度センサの設計

By Me

  1. Outstanding Faculty Award, 2016, 2017
    • Institute of Industrial Science, The University of Tokyo
  2. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structure Best Paper Award, March 2017
    • Paper: A statistical modeling methodology of RTN gate size dependency based on skewed ring oscillators
  3. IPSJ Yamashita SIG Research Award, August 2015
    • Paper title: Transistor-by-Transistor Characterization of Static and Dynamic Variations Using Topology-reconfigurable Monitor Circuit
  4. JSPS Postdoctoral Fellowship for Overseas Researchers, 2015
    • Japan Society for the Promotion of Science
    • Withdrawn for position in the University of Tokyo
  5. IPSJ Computer Science Research Award for Young Scientists, August 2014
  6. IPSJ Student Presentation Award, August 2014
  7. Yasujiro Niwa Outstanding Paper Award, February 2014
    • Tokyo Denki University
    • Paper title: Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Global Process Parameter Variation
  8. IEEE Asian Solid-State Circuits Conference Student Design Contest Award, November 2013
    • Paper title: Reconfigurable Delay Cell for Area-efficient Implementation of On-chip MOSFET Monitor Schemes
  9. IPSJ Outstanding Paper Award, August 2013
    • Paper title: An All-digital Built-in Self-adjustment Circuit for P/N-variation Compensation
  10. IPSJ Student Presentation Award, August 2013
    • Information Processing Society of Japan
    • Paper: An All-digital Built-in Self-adjustment Circuit for P/N-variation Compensation
  11. JSPS Research Fellowship for Young Scientists, April 2013
  12. VDEC Design Award, August 2012
    • VLSI Design and Education Center, Tokyo
    • For designing a chip with a built-in self-adjustment technique
  13. IEEE Kansai Section Student Research Award, December 2011
    • Paper title: Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variation
  14. Hatayama Memorial Award, March 2007
    • The Japan Society of Mechanical Engineers
    • For excellent results obtained at Oita National College of Technology